Caracterizacion De Materiales

Caracterizacion De Materiales

Temario y material de la nueva reticula de Ingenieria en Nanotecnologia.

Carreras Tecnologicas

Unidad 1 Microscopia optica

1.1 Principios basicos de formacion de imagenes

1.2 Partes y funcionamiento del microscopio optico

1.3 Metodos de iluminacion

1.4 Preparacion de muestras

1.5 Interpretacion de microestructuras

1.6 Fotomicrografia

1.7 Analizador de imagenes

Unidad 2 Difraccion de Rayos X 2.1 Naturaleza de los rayos X?

2.2 Fundamentos de generacion de rayos X

2.3 Ley de Bragg

2.4 Factor de estructura

2.5 Propiedades coligativas

2.6 Tecnicas de difraccion de rayos X

2.7 Patron de difraccion de rayos X

2.8 Metodo de Rietveld

Unidad 3 Microscopia electronica de transmision

3.1 Descripcion y principio de Funcionamiento

3.2 Partes fundamentales del MET

3.3 Tecnicas de preparacion de muestras

3.4 Poder de resolucion

3.5 Formacion de imagenes

3.6 Formacion del patron de difraccion

3.7 Reglas de indexacion

3.8 Teoria cinematica

3.9 Teoria dinamica

3.10 Espectroscopia de perdida de energia del electron

Unidad 4 Microscopia electronica de barrido

4.1 Espectroscopia de dispersion de energia

4.2 Descripcion y principio de Funcionamiento

4.3 Fenomenos fisicos involucrados

4.4 Interpretacion de las imagenes

4.5 Preparacion de muestras

4.6 Microanalisis por Dispersion de Energia

4.7 Microanalisis por Dispersion de Longitud de Onda

Unidad 5 Analisis Termico

5.1 Descripcion y principio del funcionamiento del analisis termico diferencial y termogravimetrico

5.2 Fenomenos fisicos involucrados

5.3 Tratamiento e interpretacion de los datos

5.4 Dilatometria

5.5 Calorimetria diferencial de barrido

5.6 Analisis Dinamico Mecanico

Unidad 6 Otras tecnicas

6.1 Microscopia de Fuerza Atomica

6.2 Microscopia de Efecto Tunel

6.3 Potencial Z


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